型号：T-RFS470   

总体描述

针对LoRaWan技术特点，为满足LoRa网关及终端设备的研发、生产与应用领域的测试需求，基于LoRa综合测试仪RWC5020，开发出LoRa射频测试系统、LoRa生产测试系统、LoRa空间性能测试系统系列解决方案，全面提升LoRa产品的性能，确保物联网产业的健康发展。

第一部分 LoRa射频测试系统

功能描述：

用于具有LoRa功能的LPWAN无线设备（包括网关及终端设备）的射频测试

覆盖的认证测试标准包括：

《ETSI EN300220》、《ETSI EN302208》、《FCCPart15.231》、《FCC Part15.247》、《ICA LoRa射频测试规范》

系统组成                                                                     

支持测试用例       

功能描述

为解决LoRa设备厂商测试过程中无法实现被测样品与测试仪表同步配置，使操作过程复杂；测试以手动测试为主，自动化程度低，测试效率低，不满足生产测试要求；测试结果无法有效自动记录，测试结果无法追溯。等问题，设计开发用于LoRa设备生产的高效自动化测试系统。

总体方案

第三部分LoRaOTA空间性能测试系统

功能描述

基于LoRa技术的物联网终端设备形态多样化，用场景丰富，设备辐射性能日益重要，天线的方向性对产品性能有直接的影响；天线的无源参数测试不能解决产品整体的空间性能，需要增加有源（OTA）空间性能测试。

该系统通过测量LoRa设备的空间全向辐射功率TRP及空间全向接收灵敏度TIS参数，可衡量物联网终端设备与GATEWAY之间的实际连接情况；基于空中接口的测试，模拟真实使用状态；并采用三维测量，评估盲点和功率分布及接收机空间性能。

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